貼片電容壽命檢測(cè)方法,貼片電容的使用并非無(wú)限,使用過(guò)久后還是會(huì)有消耗,貼片電容的使用壽命是有限的,貼片電容的壽命有兩層含義,其一是老化壽命,其二是使用壽命。下面風(fēng)華電容代理商為大家提供技術(shù)知識(shí)講解。
貼片電容的老化壽命一般沒(méi)有多大實(shí)際意義。一顆電容即便生產(chǎn)出來(lái)很多年,也一樣可以正常使用。這個(gè)和晶振不太一樣。當(dāng)然如果倉(cāng)儲(chǔ)環(huán)境達(dá)不足,出廠時(shí)間久的貼片電容端電極有可能老化,導(dǎo)致焊接性能下降。因此原則應(yīng)該購(gòu)買(mǎi)出廠一年以內(nèi)的產(chǎn)品。
風(fēng)華貼片電容使用壽命測(cè)試方法:
一、測(cè)試方法
1、低壓貼片電容(≤100V)
電壓:1.5 倍額定工作電壓。
時(shí)間:1000 小時(shí)。
溫度:125℃(NPO、X7R) 85℃(X5R、 Y5V)。
充電電流:不應(yīng)超過(guò)50mA。
放置條件:室溫。
放置時(shí)間:24 小時(shí)(Ⅰ類(lèi)),或48 小時(shí)(Ⅱ類(lèi)),。
2、中高壓貼片電容:
100V≤額定電壓<500V:2 倍工作電壓。
500V≤額定電壓≤1000V:1.5 倍工作電壓。
額定電壓>1000V:1.2 倍工作電壓。
時(shí)間:1000 小時(shí)。
充電電流:不應(yīng)超過(guò)50mA。
溫度:125℃(NPO X7R);85℃(X5R、Y5V)。
放置條件:室溫。
放置時(shí)間:24 小時(shí)(Ⅰ類(lèi)),或48小時(shí)(Ⅱ類(lèi))。
二、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):
ΔC/C
?、耦?lèi):≤±2%或±1pF 取兩者之中較大者。
?、蝾?lèi):B,X: ≤±20% ;E,F: ≤±30%。
ΔC/C:
?、耦?lèi):≤±2%或±1pF取兩者之中較大者。
?、蝾?lèi):B,X: ≤±20%;E,F: ≤±30%。
DF:
≤2 倍初始標(biāo)準(zhǔn)。
IR
Ⅰ類(lèi):Ri≥4000MΩ或 Ri? CR≥40S 取兩者之中較小者。
?、蝾?lèi):Ri≥2000MΩ或 Ri? CR≥50S 取兩者之中較小者。
外觀
無(wú)損傷
貼片電容壽命檢測(cè)方法內(nèi)容就到這里,以上是風(fēng)華高科的貼片電容測(cè)試方法,想要了解其它品牌的測(cè)試方法可以對(duì)我司提問(wèn)。
上一篇:貼片電阻的阻值識(shí)別方法
下一篇:電路板上電容電阻識(shí)別